JTAG（JointTestAconGroup，联合测试行动小组）是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP（TestAccessPort，测试访问口），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。

如今大多数比较复杂的器件都支持JTAG协议，如ARM、DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。如今JTAG接口的连接有两种标准，即14针接口和20针接口，其定义分别如下所示。

14针JTAG接口

1、13 VCC接电源

2、4、6、8、10、14 GND接地

3 nTRST 测试系统复位信号

5 TDI 测试数据串行输入

7 TMS 测试模式选择

9 TCK 测试时钟

11 TDO 测试数据串行输出

12 NC 未连接

20针JTAG接口

1 VTref 目标板参考电压，接电源

2VCC 接电源

3nTRST 测试系统复位信号

4、6、8、10、12、14、16、18、20 GND接地

5TDI 测试数据串行输入

7TMS 测试模式选择

9TCK 测试时钟

11RTCK 测试时钟返回信号

13TDO 测试数据串行输出

15nRESET 目标系统复位信号

17、19NC 未连接

10针JTAG接口

仿真器端口AVR端口备注

1.TCKTCK

2.NCNC

3.TDOTDO

4.VtrefVCC

5.TMSTMS

6.nSRSTRESET

7.NC/VsupplyNC/VCCJTAGICE仿真器：VCC；JTAGICEmkII仿真器：NC

8.nTRSTNCATMEL尚且保留该端口，如今暂不使用它，未来可能会使用

9.TDITDI

10.GNDGND