钙钛矿是一种与普通纳米颗粒不大相同的热门材料，由于其生长于基底上且与基底粘性较大，对TEM制样造成极大不便。不像SEM样品那样，切割后直接测量，TEM要求钙钛矿由薄膜基底向支撑膜迁移。
目前，使用较为广泛的制样方法主要分为非极性溶剂超声法和FIB切割法2种。但是这两种方法既昂贵又复杂，以下十秒制样法很简单，它采用静电吸附原理。
十秒制样
钙钛矿TEM十秒制样分刮取，沾取两个步骤进行。
刮：在钙钛矿薄膜上用刀片刮取数刀从而获得钙钛矿‘粉末’。
沾：用镊子夹支撑膜，在‘粉末’处轻轻一蘸，钙钛矿静电便附着在支撑膜的表面。
亲自测试，手速很快十秒钟搞定。操作中注意轻柔，用力过大支撑膜易刺破，不必过分担心未沾到，轻轻、坚信静电吸附的力量。
注意：操作以手套箱内进行为佳，制样之后以洗耳球吹气，具有神效，最后的测试效果和下面的图片类似1。
非极性溶剂超声法
介绍完‘十秒制样’法，再对比下传统方法制备钙钛矿薄膜样品。
下面这篇NC文章是采用‘非极性溶剂超声法’2，颗粒团聚严重，这应该是制样的时候配置的溶液浓度太浓了。
操作步骤是：刮、超、滴。
刮：将钙钛矿薄膜刮下来。
超：在非极性溶剂如甲苯中超声分散。
滴：滴在支撑膜上，然后干燥。
非极性溶剂超声法相对麻烦，而且需要像量子点溶液一样，控制好浓度，而且并不能排除超声和空气的影响。
FIB法
FIB全称是focused ion beam，用的是离子束来刻蚀样品，在离子束刻蚀之前加一层C和Pt来保护样品，在减薄样品同时保护样品，操作复杂、价格昂贵，适合截面样品。
下面这幅图来自2018年的Nature，用TEM截面图和EDS成像，证明了核-壳结构的存在，这种结构是取得高效率LED的重要原因3——一个表征成就一篇Nature系列。
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