nTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试
电源管理芯片 Power Management Integrated Circuits 是在电子设备系统中担负起对电能的变换, 分配, 检测及其他电能管理职责的芯片. 在电源的设计中, 需要用到各种形式的管理芯片, 在电测试下, 随着电源温度的变化, 需要保证芯片的正常运转, 一般芯片的温度越高, 可靠度越低, 失效率就会变高. 因此在芯片的设计之初就要考虑温度问题.

电源管理芯片由于多是在狭小空间内工作, 散热的条件不好, 大多是在高温的环境中长时间工作, 电源芯片经常经历快速升温的情况, 甚至经历在电压不稳时快速变温的情况, 所以电源芯片在出厂时需要经过测试芯片在快速变温过程中的稳定性, 这点十分重要. 上海伯东美国 inTEST  ThermoStream 高低温冲击测试机提供 -100°C 至 +225°C 快速温度冲击范围, 满足各类电源管理芯片的高低温冲击测试.
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在电源管理芯片可靠性测试方面, 优势: 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温15°C, 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度; 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件
需要环境试验箱合作热线：18926826646（微信同号）李生