性能指标是MCU单元测试的核心指标，包括处理器的性能、存储器的容量和读写速度以及外设性能等。芯片测试对自动化测试的要求很高，ATECLOUD-IC不仅解决了传统测试方法的问题，而且也可以满足芯片测试的高要求，高效地完成MCU单元性能指标的测试。
　　MCU单元测试的痛点
　　1.手动搭建测试环境，测试繁琐
　　2.手动记录测试数据，记录数据量大，容易出错
　　3.复杂测试业务逻辑，无法手动完成测试
　　4.分散自动化测试，数据分散，管理不统一
　　5.从研发到中试到生产，数据关联分析没有专业工具
　　6.长时间测试，工作量大
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　　ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统
　　1. 兼容各大品牌，内含多种测试项目，无代码编程模式，根据性能指标需要测试的项目及参数，快速搭建方案，一键运行测试。
　　2. 支持批量测试，大大提升测试效率。
　　3. 芯片性能指标测试的数据会自动存储，无需手动记录，避免手动记录数据时出错。
　　4. 测试过程实时观测，检验产品是否合格。
　　5. 测试数据可以以图表形式展示，助力对MCU单元性能指标的分析。
　　6. 可以自定义数据报告，支持一键生成导出。
　　7. 已完成的历史测试以列表形式展现，方便查看以往的测试信息。
芯片自动化测试功能.jpg
　　ATECLOUD-IC是天宇微纳研发的一款芯片自动化测试系统，在MCU单元测试过程支持批量测试，极大提高了测试效率，并且会自动管理、汇总采集数据，以图标形式展现数据，帮助进行智能数据分析。具体详情可了解：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html