martScan-350/550 EMI是一款专门设计的电磁干扰扫描系统
Amber Precision Instruments （API）电磁扫描分析仪利用电场和磁场探棒逐点探测无线通讯终端、集成电路、汽车电子、IC芯片及显示器等器件和整机产品的电磁场，得到相应测试区域的电场、磁场的相对值或绝对值，以分析电磁辐射干扰情况。
该方案能为实现自动测试和手动测试•广泛的探头选择：
从低于50千赫到高于35千赫的电磁干扰测量
低频探头组：50 kHz〜50 MHz，探头尺寸为2mm
从低于50千赫到高于35千赫的电磁干扰测量
低频探头组：50 kHz〜50 MHz，探头尺寸为2mm
窄带探头：GSM（860 MHz，1950 MHz），WiFi（2400 MHz）等
定制探头
•集成相机拍摄DUT图片
-较大的DUT的图像拼接
-扫描结果自动显示在DUT图片上
•布局文件导入
-可以导入ODB文件，并且可以在布局层上定义扫描点
•灵活的扫描区域编辑器（SAE）模块
-具有不同扫描分辨率的多个扫描区域
-点，线，矩形，任何形状的扫描区域
•自动电子X-Y偏移校正•触摸传感器检测组件高度
•连续运行多个项目
•灵活的显示选项
-3D，多层，剖切面，直方图，将多个扫描结果合并到一个显示器
•在MS Word或Excel中可自定义的报告生成
•Matlab支持
•向导，可帮助您逐步设置扫描条件•可选的发射扫描技术包括
o现场计算
o相位测量
o近场到远场转换（具有相位测量选件）o屏蔽效能评估（SEE）套件
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探头
API设计，构建和表征内部的每个探针（用于安装非API构建的适配器可以提供探头）。
[size=13.3333px]API设计，构建和表征内部的每个探针（用于安装非API构建的适配器可以提供探头）。
[size=13.3333px] 宽带，高灵敏度和高频非常重要，
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然而，抑制有害成分同样重要。 API的探棒至少20dB
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所需和不需要的组件之间的分离。
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软件亮点
扫描区域编辑器（SAE）
•通过集成的摄像头-扫描区域直接在由相机。该软件控制探头移动到定义的扫描点
•灵活的扫描区域选择-可以定义任何形状和多个扫描区域以获得最佳效果扫描时间。每个定义的扫描区域的高度可以分别指定。
不同形状的多个扫描区域
等距扫描
•在通过扫描高度分配从参考z高度固定距离扫描的情况下
•通过两种方式从DUT组件高度进行恒定距离扫描
o使用触摸传感器–探头接触到DUT表面后，它将使用户缩回
确定高度，进行测量，然后移至下一个扫描点
o定义多个扫描区域并为每个扫描区域分配高度–用户定义
每个扫描区域的DUT表面上方所需的扫描高度。 DUT高度可以是
使用触摸传感器一键获得。
距参考表面固定距离距DUT表面恒定距离
不同形状的多个扫描区域
等距扫描
•在通过扫描高度分配从参考z高度固定距离扫描的情况下
•通过两种方式从DUT组件高度进行恒定距离扫描
o使用触摸传感器–探头接触到DUT表面后，它将使用户缩回
确定高度，进行测量，然后移至下一个扫描点
o定义多个扫描区域并为每个扫描区域分配高度–用户定义
每个扫描区域的DUT表面上方所需的扫描高度。 DUT高度可以是
使用触摸传感器一键获得。
距参考表面固定距离距DUT表面恒定距离
不同形状的多个扫描区域
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