晶粒取向
为什么越来越多的研究人员偏爱使用电子背散射衍射（EBSD）这种分析方法呢？
原因在于它提供了丰富的信息量，而且这些信息通常以图表的形式直观呈现。
与光学显微镜相比，EBSD可以观察和分析更多类型的组织结构。当放大倍数超过一千倍时，光学显微镜就无法清晰地显示细小晶粒、针状、板条状或准多边形等不规则组织结构，而EBSD能够满足这种分析需求。
晶界特征
电子背散射衍射（EBSD）具备多种功能，类似于X射线衍射（XRD）。它可以进行相分析、织构测定和应力分布测定，并提供了具体晶粒的取向信息，具有很强的可视性。
此外，EBSD还拥有一些类似于透射电子显微镜（TEM）的功能。例如，它能够观察位错分布并进行相识别等操作。
KAM（应力分布）
除此之外，EBSD还具备一些独有的功能，如再结晶分析、取向差分析、重位点整合分析、晶粒椭圆度分析以及不同相之间的取向关系分析等等。
综合来看，EBSD拥有非常强大的分析功能，未来将会得到更加广泛的应用。
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