日期： 2016年7月12日
时间： 上午10:00 - 11:30 （北京时间）
  内容介绍：本次网上研讨会将讨论汽车产品生命周期各阶段的测试要求：设计阶段，早期硅片成型阶段和/或生产阶段，以及最终的现场使用阶段。我们将讨论可能需要例行执行任务模式/在系统自检的汽车与安全关键设计。满足这些及其它关键要求的解决方案包括内置自检和修复(BIST/R)、用于检测和校准在系统工作、进程和时钟监视过程中的单比特和多比特翻转的先进的错误校正电路(ECC)解决方案、上电自检(POST)以及用于全面调试嵌入式存储器IP的故障注入。
  登记参加：https://user.eet-cn.com/click?url=http://emedia.gensee.com/webcast/site/entry/join-8a2f3014f0af45fcbe55169569d811a0&campaign=Synopsys_webinar_20160712