本帖最后由 hirain 于 2019-6-12 16:34 编辑

概述
        随着电子技术和总线技术的发展，电子系统对多种类、多通道的总线应用范围越来越广，其集成化程度也越来越高。为此，对电子系统的功能验证、测试和故障定位，也需要一套集多种接口测试为一体的测试系统。
        润科通用研发的I/O 接口测试系统(Interface TestBench) 用于电子系统/ 设备研发、集成测试、验收测试、外场测试和系统维护等阶段的通信接口测试和故障定位，并提供包括接口激励、旁路采集、实时解析监控和数据存储和分析等功能。

产品介绍
        I/O 接口测试系统为一套软硬件组合的测试产品，试验人员通过本产品向电子系统发送激励信号，并同时对输出信号进行采集、监控和存储，以实现对电子系统的测试验证等工作。该系统具有便携式、集中式和分布式等产品形态，可以满足不同规模的应用需求。
        I/O 接口测试系统提供的测试设备包括IO 接口设备和远程数据集中器两类，支持灵活组合、部署，以满足不同的测试场景。该系统提供的应用软件可按照功能模块拆分、组合，支持特殊功能的定制和集成。

产品特点
• 支 持 IO 资 源 分 布 式 部 署， 包 括：ARINC664(AFDX)、ARINC429、CAN、RS422/485/232、Flexray、模拟量和离散量等
• 测试通道可灵活组合、分配，可组成高达 1000 通道的分布式测试系统
• 采用统一的系统时钟（IEEE1588 和 IRIG-B），采集数据时戳精度可达1μsec
• 支持多客户端分布式监控；每个客户端均可监控所有的 IO 接口数据，可分别监控不同总线、不同通道的数据，且任何一个节点发生故障，不影响整个系统的正常运行
• 采用开放式架构，总线类型、总线通道、测试设备均易扩展
• 可定制接口适配，支持第三方系统通过适配接口控制 IO 资源和共享采集数据
产品功能
• 应用层协议设定和 IO 资源管理
    ♦ 通过图形化界面对总线接口的应用层协议（ICD）进行定义和编辑
    ♦ 自动扫描和识别硬件接口资源，支持ARINC664(AFDX)、ARINC429、CAN、RS422/485/232、Flexray、模拟量和离散量等接口
    ♦ 灵活方式配置应用层协议数据与物理层传输通道的关联关系
• 数据激励
    ♦ 基于ICD的定义编辑激励报文内容，并提供二进制、八进制、十进制和十六进制编辑功能
    ♦ 支持固定次数激励和循环激励
    ♦ 可编排报文激励顺序，设置每个报文的发送次数和发送间隔
    ♦ 实时监控激励过程，统计激励次数和激励报文总量
• 实时采集和存储
    ♦ 支持分布式实时采集，时戳精度可达1us
    ♦ 采集节点支持硬时钟同步，同步精度为1us
    ♦ 采集节点支持软时钟同步，同步精度分别1ms
    ♦ 集中存储，可配置存储内容和存储方式
    ♦ 支持手动控制、定时触发和条件触发等存储方式
• 实时解析和监控
    ♦ 支持分布式多客户端、多窗口监控
    ♦ 提供表格、曲线和虚拟仪表等多种监控形式
    ♦ 根据ICD定义，自动解析数据，还原工程值、物理量或状态量可查看原始报文内容，支持十六进制和二进制两种呈现方式
    ♦ 提供数据统计（带宽、流量、报文间隔等）、过滤、检索、着色标记等功能
    ♦ 提供预警报警功能，检测总线或ICD在一定时间内无信号；总线或ICD未按照预期的传输速率传输
    ♦ 可自定义监控页面、监控布局
• 历史数据分析
    ♦ 基于时间段范围或数据量范围过滤存储的历史数据
    ♦ 可对历史数据进行逐条读取及分析
• 支持数据导出，可生成 Txt 和CSV等多种格式数据文件