探索材料的微观世界，电子显微镜扮演着不可或缺的角色。它能够揭示材料样品内部的精细结构，是科研实验中分析组织形貌和结构特征的关键技术。要想通过电子显微镜获得清晰的图像，关键在于样品的制备。
扫描电镜（SEM）样品制备
1. 块状样品
低倍率观察：使用导电胶带固定。
高倍率观察：使用液体导电胶固定。
2. 粉末样品：
直接固定在导电胶带或液体导电胶上，要注意导电胶带的剥离纸放置方向，以及液体导电胶的干燥程度。
3. 截面样品
硅片或玻璃：使用玻璃刀切割。
薄膜类样品：液氮粹断。
先进制样技术
氩离子切割：使用宽离子束切割样品，获得精确的分析区域。
氩离子抛光：去除样品表面损伤层，提高成像质量。
透射电镜（TEM）样品制备
1. 样品要求
透明：电子束能穿透样品。
厚度：一般小于100nm，高分辨电镜样品小于10nm。
牢固：能承受电子束轰击。
导电性：非导电样品需喷薄炭膜。
2. 载网与支持膜
载网：多孔金属片，通常由铜制成。
支持膜：非晶质薄膜，厚约20nm，透明且不与样品反应。
支持膜分类
1. 无孔碳支持膜：提高导电性，适用于大多数样品。
2. 纯碳支持膜：适合有机溶剂或高温处理的样品。
3. 超薄碳支持膜：适合观察10nm以下的样品。
4. 有孔（微栅）支持膜：提高图像衬度，适合管状、棒状样品。
5. 非碳材料支持膜：如纯方华膜、镀金支持膜、氮化硅薄膜窗格。
载网正反面识别
通过对比载网边缘与中间区域的亮度来区分。制备高质量的样品是电子显微镜分析的关键步骤，正确的样品制备方法可以显著提高实验结果的准确性和可靠性。希望这些整理的方法能对实验人员有所帮助，以便获得满意的实验结果。
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