本帖最后由 hirain 于 2019-6-11 10:04 编辑

概述
        T3ster 是美国 Mentor Graphics 公司研发的瞬态热测试仪，基于国际标准的静态实验方法 JESD51-1，测量 IGBT、MOS 管、功率二极管、三极管、LED、微机电系统等半导体电子器件的热阻、热容特性，用于新能源汽车、轨道交通、电力电子等行业的功率电子无损检测、功率循环测试等。

产品介绍
        T3ster 的基本配置包括测试主机以及 PC 端的测量控制和结果分析软件，T3ster 扩展应用配置包括TeraLED、DynTIM和Power Tester 1500A。
• T3ster
    ♦ 实现芯片结温、结壳热阻、内部各层热容 - 热阻等热特性的快速无损测量，可用于电子元器件的校准，实现接触热阻测量
    ♦ 可用于芯片缺陷检测或故障分析以及 PCB 焊点的可靠性测试
    ♦ 可为 FloTHERM 提供详细的热特性数据，帮助快速建立和修正仿真模型
    ♦ 高达 1μs 系统瞬态测试间隔下，拥有市场最高灵敏度（其温度分辨率达 0.01 摄氏度）


• TeraLED
    ♦ 拥有高精度的辐射和光学测量仪，能对 LED 热特性包括温度、寿命和可靠性等进行全面准确的测量
    ♦ 其自带软件能自动分析光通量、光效率、效能以及色差坐标，数据可直接导入 Flotherm /FloEFD 进行后续 LED 灯总成的热分析


• DynTIM
    ♦ 热界面材料 (TIM) 热特性测试的行业领先设备，与 T3Ster 配合，测试材料分辨率可达 1μm
    ♦ 提供业界先进的 TIM 测试方案，其相对精度高达 ±5%
    ♦ 可实现多种可压缩材料如导热硅胶、散热垫、各种相变材料以及其他粘合剂和固体试样等的热测试


• Power Tester 1500A
    ♦ 广泛应用于汽车、铁道等 IGBT 热特性的无损检测，以及IGBT 的加速疲劳特性测试
    ♦ 集功率循环、热瞬态测试、热结构函数分析于一身
    ♦ 内置多种功率加载模式，如恒定功率、恒定温升、恒定电流
    ♦ 实时故障原因诊断，如芯片键合线断开、芯片及封装内材料分层与破损、焊膏老化等
    ♦ 全周期连续监控，可监控从起始到失效的全过程
    ♦ 使用灵活，单通道最大 500A，三个通道可独立使用也可联立使用