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一、低端运放电流检测方法
个人认为此种检测电路思想是比较好的一个方案，可以降低器件选型的参数要求以及忽略负载电压的变化，不过PCB布板设计上要注意，布板不合理，电流采样会有问题。
分析下原理：
运用运放的虚短特性，既得到了：
V+ = V-；
运用运放的虚断特性，既输入端和输出端没有电流流过。所以R3和R6流过电流相等。
(VOUT-V-)/R3 = V-/R6；
由上面两个式子即可得到
VOUT = V+ * (R3 + R6)/R6；
而又有：
V+ = I * R8；
所以有：
I =V+ / R8 = VOUT * R6/(R3 + R6)/R8；
电流就这样转换出来了，调整好几个电阻的阻值，Vout 用单片机的ADC采样即可。
二、高端电流检测电路
此种电路检测是常用的电流检测方式，但其存在的问题就是负载电压的变化与电路参数相关性太强，不好进行匹配。
这个电路要检测电流最终的目的就是要得到图上VOUT和V1、V2的关系。
先来分析下输入端，虚断可知：
V+/R7 = （V2-V+)/R5；
虚短得到：
V+=V-；
输入负极的一条路电流是相等的:
（V--VOUT)/R1 = （V1-V-)/R2；
通常在使用该电路的时候有R1 = R7、R2 = R5。
综合上式有：
VOUT = (V2-V1)*R1/R2；
V2-V1 = I*R4;
所以
I = VOUT*R2/(R1*R4) ;
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