其实不是的，为什么呢！我们就从一个硬件测试专业人员针对一个电路的测试来看看，硬件测试的价值在哪里！
|| 正文测试的仿真电路如下图。
电路简介：
输入：标配48V适配器输入
标准42.5V-57V（正负极性）
将遇到：37V-57V（正负极性）
备注：D2、D3模拟整流桥中两个二极管
S1、V3为适配器插拔仿真用
硬件测试电气PSE_DET电平测试
1. 基本测试（标配适配器、常温）
2. 42.5V扩展测试（常温）
3. 37V扩展测试（常温）
4. 57V扩展测试（常温）
5. 57V输入功耗测试（常温）
6. 常温输入边沿
硬件测试环境
通过仿真可以初步知道在相同的输入条件下，产品指标是逐渐恶化了。比如在42V输入条件下，输出电平在-20摄氏度条件下低于0.2V，但是在65摄氏度条件下已经高于0.8V了（这个几乎从一个低电平变为高电平了）。
1. 43V输入40℃高温运行
2. 48V输入40℃高温运行
3. 57V输入40℃高温运行
4. 57V输入40℃高温运行
硬件测试裕量1. 标配适配器差异：5%精度偏差
有一定风险，因为适配器到产品输入端将会存在使用长线存在相关标准要求。牵扯到相关标准细节，在此不做详细介绍。产品不能达到标准要求；
2. 环境裕量
在产品检测电路温度按照上限90℃条件下，到产品端输入电压必须大于44V；
3. 器件裕量
输入端串联电阻为0402封装1/16W，在高温条件下裕量不足15mW，考虑到器件差异。此处功率裕量有风险，因为这个电路长期处于这种工作条件下；
光耦输入最低电流要求
后级输入对于低电平最小值和最大值要求
4. 器件参数精度导致电路影响
此部分需要用仿真蒙特卡洛分析，诸多spice仿真软件都支持此类应用。在此不足介绍，但是在产品测试阶段我们是需要评估这种影响。特别是对于此电路，天生存在缺陷；
5. 器件兼容性
此电路中肖特基管和光耦都是敏感器件，其实主要是电路设计不够导致这两个器件成了敏感器件。因为他们的参数和输入电压、电流、温度有较大关联。所以我们需要考虑同一料号下其他厂家、型号相应器件差异。
原创：卧龙会 关羽兄弟
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