与硅相比,碳化硅(SiC)具有3电子伏特(eV)的宽带隙和更高的导热率。基于SiC的MOSFET最适用于高击穿、高功率的高频应用。与硅相比,诸如RDS(on)等器件参数随温度的变化较小。这使设计人员能够在设计中实现更小的极限,从而实现更高的性能。GaN比SiC具有更高的带隙(3.4电子伏特)和更高的电子迁移率。与硅(Si)相比,其击穿场强度高出十倍,电子迁移率提高一倍。输出电荷和栅极电荷都比硅(Si)低十倍,反向恢复电荷几乎为零,这对于高频操作至关重要。
下面汇总了7个关于SiC、GaN的技术资料,欢迎工程师下载。
- GaN 增强型 HEMT 在无线功率传输中的优势
- 适配器和充电器应用中的氮化镓技术
- 服务器和电信应用中的氮化镓技术
- CoolGaN的可靠性和鉴定
- GaN-on-Si 如何帮助提高功率转换和电源管理的效率
- 功率半导体的成功之路
- MOS、SiC、GaN 三种不同功率器件的对比
想要了解更多SiC、GaN相关技术,可以参加这个【闯关抽奖】的小游戏,顺便看看SiC实物评测的效果