通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究
时间:2019-12-26 16:18来源:讯技光电作者: 技术部点击:612次打印
摘要

通常可以采用瑞利判据理论表征显微镜的分辨率，瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为，当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时，就可以分辨它们。在这个例子中，我们根据瑞利的理论，检验不同数值孔径(NA)显微物镜的分辨率。

1-191226161252H0.png

建模任务

1-19122616132K35.png


真实物镜的评估

1-19122616140a50.png


真实物镜的评估

1-19122616142a41.png


用德拜-沃尔夫积分法评价理想透镜

1-19122616144Y20.png


用德拜-沃尔夫积分法评价理想透镜

1-19122616150a20.png


走进VirtualLab Fusion

1-19122616152A23.png


VirtualLab Fusion的工作流程

 从Zemax OpticStudio®导入透镜系统
- 从Zemax导入光学系统 [用例]
 分析实际透镜系统的成像性能
- 分析高NA物镜聚焦 [用例]
 使用Debye-Wolf积分作为参考
- Debey-Wolf积分计算器 [用例]

1-191226161553562.png


VirtualLab Fusion技术

1-191226161622D0.png


文件信息

1-191226161646350.png