敏矽微ME32F103 Demokit 测评报告

一、开发板基本检测

取到开发板后，首先测试VDD和GND等电源引脚是否因为生产过程中或者其他原因造成短接，防止电源上电后，不良（下称NG）部分会对电路中元器件造成不可逆损坏。特别是MCU一类对电源范围敏感的元器件。

二、开发板下载说明

参考原理图中的相关说明，实物可以按照上图中的SWD下载方式进行程序下载，实测兼容市面上的ARM下载工具。（当然若有条件，最好的是，推荐使用敏矽微原厂的下载烧录工具。）

将例程demo led pc4，烧录按上述接线通过SWD方式烧录到MCU内部，如上图中现象（PC4指示灯闪烁），说明程序烧录工序基本无问题，可认为芯片正常工作，可以进行相关的测评示例工程代码编写。

三、测评示例及其结果

申请敏矽微ME32F103 Demokit是希冀于可以进行项目的国产化替代。项目中一个关键的环节和功能是，MCU作用微控制处理器的同时，使用内部的ADC模块测量4~8路模拟量，并将采集到的数据进行滤波后，将数据以特定编码形式通过UART传输到其他设备中。

查阅ME32F103_datasheet_20220804.pdf，需要调用到相关的功能：TIM、ADC、DMA、UART。

评测任务：采用DMA+ADC方式采集8路模拟信号，并定时将数据汇总后通过串口打印输出到PC中。

在例程lib文件夹中，可以找到demo adc dma例程，进入该例程进行结合数据与编程手册，对对应的部分进行学习：

在数据手册中，ADC章节中，选定要操作的8个AD通道，刚好A/D转换结果寄存器也有8个，可以一一绑定。

按照10.4操作的章节描述，在代码对ADC部分进行配置：

首先选定A/D通道，这一步相当于将内部ADC通道连接到外部PIN脚：

然后对ADC外设功能进行配置和初始化：

由于笔者本次计划用DMA来自动传输DR寄存器内部的数据到对应的内存中，因此还需要对ADC的中断信号对DMA进行使能：

接着就可以进行DMA通道的相关配置：

在代码中，首先进行DMA初始化，并判断是否启用DMA使能成功，若是，进行下一项配置，

配置完成后，就可以正常使用ADC+DMA功能了，在主程序中，进行ADC软件触发：

在DMA中断回调服务函数中，对DMA相关计数位清零恢复到配置状态：

通过上述SWD方式烧录该demo到MCU中，可以观察到输出：

还需要对数据进行简单转码再输出会更加直观：

对数据进行标定和换算，使用杜邦线将对应两个通道的PIN连接到板载的电源上，进行简单验证：

Demo的示例中使用到的换算函数：

另外温馨提示，由于案例内，CxLLI指向了空，因此程序中DMA是仅仅运行一次的，如果需要循环DMA，还需要单独配置。

关于该DMA+ADC改后完整的Demo案例您可以通过联系我获取。