[size=13.3333px]系统的传输线脉冲（TLP）测试和分析功能符合ANSI/ESD STM5.5.1-2014测试标准。ES620系统能够向器件注入高质量矩形波脉冲，同时记录流经器件的电流和器件两端电压。测试结果能够提供脉冲IV曲线，使用户能够表征器件在纳秒级的瞬态响应。系统还具有先进的器件失效自动化检测方法，例如漏电流测试，静态IV曲线，熔断和火花放电。
[size=13.3333px]超快TLP（vf-TLP）测试和分析功能符合ANSI/ESD SP5.5.2-2007测试标准。vf-TLP 测试用于模拟CDM速度的静电放电，捕捉高速（大约100ps上升沿）状态下器件的电流和电压。用户可以通过这种方法测试器件的响应速度和峰值电压。
[size=13.3333px]人体金属模型（HMM）测试和分析功能符合ANSI/ESD SP5.6-2009测试方法。该方法可以替代IEC61000-4-2中系统级ESD测试方法，用于测试IC。当测试低阻抗器件或者晶圆时，系统的该测试功能可以提供符合IEC61000-4-2标准的理想波形，并且避免许多静电放电枪测试时可能出现的问题，例如可重复性差，放电位置不精确，由未屏蔽继电器产生的EMI互扰，需要设置大接地平板和耦合板。
[size=13.3333px]系统有完整的软件控制，可定制上升沿时间和脉冲宽度，与IVI仪器有良好的兼容性，体积小，价格优惠。
ES620 TLP测试系统符合下列国际测试标准:
ANSI/ESD STM5.5.1-2014 – Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing – Transmission Line Pulse (TLP) – Component Level
ANSI/ESD SP5.5.2-2007 – Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing – Very Fast Transmission Line Pulse (VF-TLP) – Component Level
ANSI/ESD SP5. 6-2009 – Electrostatic Discharge Sensitivity Testing – Human Metal Model (HMM) – Component Level
[size=13.3333px]ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2014 – Electrostatic Discharge Sensitivity Testing – Human Body Model (HBM) – Component Level.
（二）应用领域
[size=13.3333px]晶圆级ESD测试
[size=13.3333px]PCB/封装级ESD测试
[size=13.3333px]系统/电路ESD测试
[size=13.3333px]安全工作区（SOA）测试
[size=13.3333px]充电恢复时间测试
[size=13.3333px]查分ESD脉冲注入
[size=13.3333px]触摸屏ITO微带线熔断测试
[size=13.3333px]触摸屏ITO微带线火花放电测试
[size=13.3333px]TLP注入电流脉冲符合并超过ANSI/ESD STM5.5.1-2008标准
[size=13.3333px]Vf-TLP注入电流脉冲符合并超过ANSI/ESD SP 5.5.2-2007标准
[size=13.3333px]对于低阻抗器件，HMM的注入电流脉冲与IEC61000-4-2波形相符
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