传统手动测试静态功耗只需在芯片的输入端串上一台万用表,然后对芯片各个端口添加合适的电压即可测量出芯片的静态电流,整个流程十分简单,但是芯片的制作工艺极为复杂多样,同时芯片规格也千变万化,因此手动测试在面对多批次、多规格的芯片测试时难免顾此失彼。很难保证测试的高效性和数据的准确性。所以芯片测试系统的使用就可以很明显的避免这个问题。芯片的制作工艺极为复杂多样,同时芯片规格也千变万化,因此手动测试在面对多批次、多规格的芯片测试时难免顾此失彼。
虽然静态功耗手动测试也十分迅速,但是相对芯片自动测试系统来说,系统的优势也相当明显,除了测试效率性、数据准确性,芯片测试系统还有大数据分析功能,系统中的数据洞察模块,可以对采集到的数据进行整体分析和整理,可以将所有数据以折线图或柱状图等形势集中展示,为企业的发展和决策方向提供数据支持。更多ATECLOUD-IC芯片测试系统可了解:https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html