ESD:electronstatic discharge 静电放电
现象：有限的大量的电荷在不同电位体之间快速转移的一种放电现象。
产生原因：摩擦，接触，耦合感应等。
特点：时间短（ns级），电压高（kv）,电流大（A）。
测试规范与方法：IEC61000-4-2
EOS：electrical over stress 电性过应力
现象：高压或者大电流导致芯片内部损坏，发热，从而伴随着外部烧糊的现象。
产生原因：感应，雷击浪涌等。
特点：时间长（us级），电压跟电流视情况而定。
测试规范与方法：IEC61000-4-5
ESD与EOS(surge)防护器件
电路保护元件包括陶瓷气体放电管(GDT)、瞬态抑制二极管（TVS）、静电保护元件（ESD）、半导体固体放电管（TSS）、压敏电阻（MOV）、玻璃气体放电管（SPG）贴片压敏电阻（MLV）、自恢复保险丝（PPTC）等。
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